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1. セミナーの受講を希望される方は、備考欄に番号・参加タイトルを ご記載ください。 セミナータイトル 803-1 10:40～11:30 ELN(電子実験ノート)：NEXS 804-1 10:40～11:30 プロセス制御の基礎 805-1 10:40～11:30 SEM/AFM/CSIによる表面観察と 3D計測ソリューション 803-2 13:00～13:50 LIMS(分析情報統合システム)：WeLS 804-2 13:00～13:50 電子機器の対EMC設計と対策技術 805-2 13:00～13:50 ドローンによる屋内・屋外の設備点検 803-3 14:00～14:50 ELN(電子実験ノート)：NEXS 804-3 14:00～14:50 プロセス制御の基礎 805-3 14:00～14:50 ドローンによる屋内・屋外の設備点検 803-4 15:00～15:50 LIMS(分析情報統合システム)：WeLS 804-4 15:00～15:50 電子機器の対EMC設計と対策技術 805-4 15:00～15:50 SEM/AFM/CSIによる表面観察と 3D計測ソリューション 2. 複数名で受講される場合、お手数ですが、人数分登録をお願い申し上げます。 人数が多い場合は、備考欄に以下の要領で記入してください。 記入要項) 氏名（フリガナ） 会社名 部署名 電話番号 FAX番号 e-mail 参加セミナー 記入例） 西川 太郎 ニシカワ タロウ 西川計測株式会社 技術課 TEL:078-333-0290 FAX:078-333-0295 nishikawa-kansai@nskw.co.jp 803-1 10:40～11:30 ELN(電子実験ノート)：NEXS 803-2 13:00～13:50 LIMS(分析情報統合システム) 西川 次郎 ニシカワ ジロウ 西川計測株式会社 設計課 TEL:078-333-0290 FAX:078-333-0295 nishikawa-kansai@nskw.co.jp 803-1 10:40～11:30 ELN(電子実験ノート)：NEXS 803-2 13:00～13:50 LIMS(分析情報統合システム) ※注）・開催時間は省略して頂いて差支えございません。 ・タイトルは記載をお願いします。 ・開催時間の重複にはお気を付け下さい。
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