IPM、IGBT、Diodeなどのパワ－モジュ－ルの各種静特性を高温で測定し良否判定を行う装置です。
特徴
| 耐圧リ－ク系 | 最大 2000V(特注は4000V) |
|---|---|
| 電流系 | 最大1000A(特注は2000A) |
| 温度 | ～150℃ |
| 素子数 | ～6素子フルブリッジ+ブレ－キ素子 |
EV・HEV関連
IPM、IGBT、Diodeなどのパワ－モジュ－ルの各種静特性を高温で測定し良否判定を行う装置です。
| 耐圧リ－ク系 | 最大 2000V(特注は4000V) |
|---|---|
| 電流系 | 最大1000A(特注は2000A) |
| 温度 | ～150℃ |
| 素子数 | ～6素子フルブリッジ+ブレ－キ素子 |