セミオートプローバー
![](https://www.nskw.co.jp/uploads/2023/06/product_semiconductor_01.jpg)
各種インチサイズに対応した、セミオートプローバー
半導体パラメータアナライザ
![](https://www.nskw.co.jp/uploads/2023/06/product_semiconductor_02.jpg)
電流-電圧(I-V)測定、容量-電圧(C-V)測定、超速パルスI-Vの同期測定を実現。
パーティクルカウンター
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マイクロオーダーからナノオーダーまで超クリーン環境においても高精度での測定が可能。
AFM(原子間力顕微鏡)
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ナノスケールにおける構造の可視化、または電気的、機械的、材料特性評価を。
顕微分光膜厚計
![](https://www.nskw.co.jp/uploads/2023/06/product_semiconductor_05-1.jpg)
顕微分光を用いた微小領域での絶対反射率測定により、高精度な膜厚・光学定数解析が可能。
レーザー顕微鏡
![](https://www.nskw.co.jp/uploads/2023/06/product_semiconductor_06.jpg)
非接触・非破壊で試料表面の微細な3D形状の観察・測定が可能なレーザー顕微鏡。