本装置は、次世代パワーデバイスとして開発の進む高耐圧SiCパワーデバイスを高温、高湿、不飽和加圧蒸気の環境において、最大13kVのDC/AC電圧を印加し、漏れ電流を評価する為の試験装置です。1つの環境槽の中で、最大5個まで同時に試験することが可能です。
※環境試験槽は、ご要求に合わせてカスタマイズ可能です。
※ワークに合わせた各種治具の製作も可能です
共通仕様
- 試験電圧は、最大で13kV(実効値)まで出力可能(ワーク全てに同じ電圧を印加)
- ワークは同時に5個まで試験可能
- 漏れ電流はワーク毎に独立して計測
漏れ電流計測範囲 : 0~2mA
計測分解能/精度 : 10nA/±0.05% of FS
サンプリング周期 : 1ms~10s - 試験の操作、データ収集は、PCの専用アプリケーションで一括操作可能
高温印加試験装置 仕様
制御温度範囲 | 常温+20℃~350℃ |
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温度変動幅 | ±0.5℃(無負荷時) |
内容量 | 288L |
高温高湿印加試験装置 仕様
制御温度範囲 | -20℃~100℃ |
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制御湿度範囲 | 10~98%RH(10~40℃) / 30~98%RH(40~95℃) |
温度変動幅 | ±0.3℃(無負荷時) |
湿度変動幅 | ±2.5%RH(無負荷時) |
内容量 | 288L |
不飽和加圧蒸気印加試験装置(HAST装置) 仕様
制御温度範囲 | 105℃~160℃ |
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湿度制御範囲 | 65~100%RH |
制御圧力範囲 | 0.019~0.393MPa |
内容量 | 12L |
専用アプリケーションソフト
試験の条件設定、状態監視、モニタリング(グラフ表示)を行うことが出来ます。
試験データは、CSVで自動保存されます。